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          1. 您現(xiàn)在的位置：首頁
            2. 

          2. 產(chǎn)品中心
            3. 

          3. 其他儀器設(shè)備
            4. 

          

          

          

          
產(chǎn)品展示

          

          

          KEYENCE 基恩士 分光干涉式晶片厚度計 SI-F80R 系列
          

          產(chǎn)品編號：SN202511060928448327
          

          產(chǎn)品簡述：采用近紅外 SLD，即使已貼附 BG 帶也可測量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于圖案而產(chǎn)生的顯著差異，也可實現(xiàn)準(zhǔn)確的生產(chǎn)線上測量。
          


          

          

          

          產(chǎn)品介紹
          

          

          產(chǎn)品特性
          • 即使已貼附背面研磨帶也可測量晶片厚度
          • 大幅降低圖案的影響
          • 可在生產(chǎn)線上進(jìn)行測量
          • 自動映射整個晶片的厚度分布

          

          


          

          

          

          

 



            4. 

            

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                3. 

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